• 類型：光譜儀
• 測量范圍：硫(S)-鈾(U)
• 測量精度：0.05%(測試含量大于96%樣品）
• 測量時間：60-200S
• 高壓：5-50KV
• 管流：可調
• 計數率：1000/S

RoHS要求中的主要測試物質如下表：

     《電子信息產品中有毒有害物質的檢測方法》（以下簡稱《檢測方法》，標準號為 SJ/T 11365-2006）對RoHS要求中有害元素測試方法給予了限定。其中X射線熒光光譜法（XRF）作為一種快捷、方便的方法被制定為快速篩選方法。使用X射線熒光光譜法（XRF）可對鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、鉻（Cr）以及溴（Br）五種元素的相應標準樣品進行測試。可是基于 XRF的原理所獲得的結果只是元素的含量，也就是說如果這種篩選測試得到鉻（Cr）或溴（Br）的含量，即使他們超標也并不能代表有害物質（Cr VI）與阻燃劑PBB和PBDE）超標，這個測試結果（指含有）只是含有相應有害物質的必要條件而并非充分條件。這也就是限值表中沒有這兩種有害物質不合格的限值判斷依據的原因。

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針對EDX1800在各個領域的廣泛應用，根據優(yōu)化產品性能和提高安全防護等級的需求，特別設計該款EDX1800B。應用新一代的高壓電源和X光管，提高產品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。

性能特點

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率

技術指標

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

標準配置

移動樣品平臺
電制冷Si-PIN探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機

應用領域

RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

公司介紹

　　江蘇天瑞儀器股份有限公司是研發(fā)生產銷售ROHS分析儀，氣相色譜質譜聯(lián)用儀,鍍層測厚儀，等離子發(fā)射光譜儀，X射線鍍層測厚儀，氣相色譜儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF合金分析儀，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A，EDX1800E,Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000,OES8000S等。

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